AM测量系统简介:AM角度测量系统，是SPM公司自主开发，针对回转控制台角度和弧度显示和控制的测量系统。采用磁性原理，利用磁栅尺和磁敏磁头相对移动进行角度测量。利用磁栅尺比较柔软的特性，使磁尺与回转台紧密贴合，实现角度和弧度测量。
整个系统由磁栅尺、双磁敏磁头、信号触发器和数显表组成，磁敏磁头输出的是标准RS422的AB相信号，也可方便的和PLC或数控系统连接。
由于测量的是角度和弧度，所以测量回转台的直径约大，精度就越高。特别适用于高精密分度回转台。具有耐油污，耐粉尘，防水，非接触等特点。[attach]53902[/attach]