基于频谱仪的相位噪声测试及不确定度分析
对基于频谱分析仪的相位噪声测试原理和方法进行了介绍,并对引起测试系统不确定度的因素及其评定方法进行了讨论.
频谱分析仪,相位噪声,不确定度,测试原理
潘光斌,电子科技大学自动化学院(成都);中国工程物理研究院计测中心(绵阳)
中国仪器仪表学会第六次全国会员代表大会暨学术会议
20030329
北京
中国仪器仪表学会
仪器仪表学报/2002.5增刊
《仪器仪表学报》杂志社
北京
20030301
106-107,119
H046370