纳米三坐标测量机不确定度分析与精度设计
csxfjsw123 · 2008-01-25 16:15 · 53525 次点击
纳米三坐标测量机不确定度分析与精度设计
杨洪涛费业泰陈晓怀合肥工业大学仪器科学与光电工程学院,安徽合肥230009安徽理工大学机械工程系,安徽淮南232001摘要:利用现代精度设计理念设计纳米三坐标测量机的结构,选用高精度的零部件进行组装,解决了传统阿贝误差问题,通过研究现代精度保障理论和技术,进行纳米级水平的误差源全面分析,推导各个不确定度分量的计算公式,根据给定的精度指标设计合理的精度,提出所需检定仪器的具体技术指标,精度设计的结果满足了纳米三坐标测量机的测量精度要求.
关键词:纳米三坐标测量机阿贝误差全误差源分析不确定度精度设计
分类号:TG8TH7文献标识码:A文章编号:1000-582X(2006)08-0082-05栏目信息:机械·光电工程
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UncertaintyAnalysisandAccuracyDesignofNano-CMMYANGHong-tao,FEIYe-tai,CHENXiao-huai1.SchoolofInstrumentScienceandOpto-electronicEngineeringHefeiUniversityofTechnology,Hefei230007,China;2.DepartmentofMechanicalEnginneeringofAnhuiUniversityofScience&Technology,Huainan232001,ChinaAbstract:Byusingadvancedaccuracydesignconcept,Nano-CMM'sstructureisdesigned,whichisset-upbychoosinghighdegreeofaccuracycomponents.ThetraditionalAbbeerrorissolvedduetothedesignofthestructureoftheNano-CMM.Bystudyingthemodemaccuracyensuringtheoryandtechnique,thenanometerlevel'sanalysisoftotalerrorsourceoftheNano-CMMisprocessed.Theuncertaintycalculatingformulaisdeduced.Thereasonableerrordistributinganddesignarecloneaccordingtothegivenaccuracytarget.Theneedednanometerlevelcalibratinginstruments'technicindexareputforward.TheresultofaccuracydesignmeetsthemeasuringaccuracydemandofNano-CMMismade.
Keywords:Nano-CMM;Abbeerror;analysisoftotalerrorsource;uncertaintyaccuracydesign