UM-2测厚仪
仪器信息网 · 2011-03-24 00:38 · 15612 次点击
UM-2测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2超声波测厚仪分辨力0.01,具有最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值;数据存储;报警功能
UM-2超声波测厚仪技术参数:
工作原理:脉冲~回波方式
测量范围:0.8~300mm;取决于所用探头、所测材料、表面状况
分辨率:0.01毫米
零点校准:一点校准(用于常规的厚度测量);两点校准(测量曲面壁厚或特殊应用时,可显著提高测量精度)
示值误差:±0.05mm(10mm以下);±0.5%H+0.01(10mm以上),注:H为被测物厚度
重复性:±0.05mm
显示:128×64点阵液晶屏(42×57毫米);具有EL背光,可调节对比度,厚度值数字高度可达13.75毫米
声速范围:1000~9999m/s,0.0394~0.3937in/us
数据存储:划分5个数组,可存储500个厚度值
工作语言:中文、英文
电源:两节1.5VAA电池,当电池电量不足时,有低电压提示
操作时间:两节5号电池,使用时间可达200小时
自动关机:5分钟无操作后自动关机
工作温度:-10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃
尺寸:149mm×73mm×32mm(H×W×D)
重量:含电池200g