PerthometerM2粗糙度仪基于久经验证的强大功能t,使得仪器的设置如测量条件，系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurfM2粗糙度仪让您得到最到的测量功能和高效的测量灵活性.与PerthometerM1粗糙度仪对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求，还能使大多数的测量参数和特性曲线完全根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。更多的,MarSurfM2粗糙度仪提供了内置的存储器，可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测,垂直显示比例的调整,用于计算粗糙度峰顶数使用的不对称截止线设置.
德国马尔MahrPerthometerM2便携式粗糙度测量仪技术参数
测量范围高达150µm(6000µin)
测量单位µm/µin可选
评定标准:DIN/ISO/JIS和CNOMO(Motif)可选
依照DINENISO4288/ASMEB461标准的测量长度选择:1,75mm;5,6mm;17,5mm(0,07in;0,22in;0,7in);依照ENISO12085标准:1mm;2mm;4mm;8mm;12mm;16mm
截止波长可从1至5自由选择
完全依照标准的测量波长及测量长度自动选择
依照DINENISO11562标准的相位修正轮廓滤波器
可选择截止波长有0,25mm/0,8mm/2,5mm(0,01in/0,032in/0,100in)
可选择短截止波长
依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数:Ra,Rz,Rmax,Rp,Rq,Rt,R3z,Rk,Rvk,Rpk,Mr1,Mr2,Mr,Sm,RPc;依照JIS标准的评定参数:Ra,Rz,Ry,Sm,S,tp;Motif标准的评定参数:R,Rx,Ar,W,CR,CF,CL(3-区域测量)
可显示公差及输出测量报告中
显示比例可自动或手动选择
可打印R-轮廓(ISO/JIS),P-轮廓(Motif),材料率曲线,等测量报告
测量报告可输出测量日期及时间
内置存储卡可存储200组测量数据
动态传感器校准
锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护
PerthometerM2便携式粗糙度测量仪产品应用
轴类,外壳,大体积的机械机架
汽车业应用,如凸轮轴和曲轴测量和/或其他需要横向测量的位置
可在生产线上使用，实现固定架构中任何部件的快速线上实时测量
PerthometerM2便携式粗糙度测量仪标准配置
M2评定单元
PFM驱动器
NHT6-100传感器
通用90-264V电源适配器