高加速壽命試驗
加速應力試驗源由(AcceleratedStressTest,AST)
加速應力試驗之應用源起於1970年代美國因應太空計畫對高可靠度的需求而備發展出來。隨著科技高度發展及快速變化的市場需求，過去耗時的產品驗證方式已逐漸無法應付如此快速變化的市場需求進而影響到產品於市場之競爭力，因此，如何快速且有效發現產品設計缺陷並於設計階段加以修正為現今國內外各大廠之主要關鍵問題，亦即是HALT&HASS逐漸被重視的原因。
產品在設計階段進行缺陷修正是極為容易的，在大量生產後進行缺陷修正則困難度相對提高。微利時代若產品在市場於保固期內出現缺陷則所花費成本與商譽損失將無法計算。因此1990年代後以美國為首的國際各大廠(包括hp,Dell,Cisco,Nortel,Tetronix,Motorola等)均相繼以HALT手法作為新產品開發階段迅速找出產品設計及製造的缺陷同時改善缺陷已達降低保固期成本、增加產品可靠度並縮短產品上市時間。同時可利用HALT所發現之失效模式與相關資做為後續研發產品的重要依據。目前有航空電子、汽車及資訊等高科技產業皆已投入HALT領域之測試，並且已有相當成效。
高加速壽命試驗(HighlyAcceleratedLifeTesting,HALT)
高加速壽命試驗係利用漸進提升應力方式施加於產品，施加應力種類包括六自由度振動、高低溫、快速溫度循環、複合式應力、電力開關循環、電壓邊際及頻率邊際測試等。
高加速應力篩選(HighlyAcceleratedStressScreen,HASS)
根據美國GE的統計調查,對於全新設計的產品在市場出現失效的比重分配發現因設計缺陷造成失效比例佔33%，零件選用不當佔34%，製程缺陷則佔33%。Honeywell對於成熟的產品進行市場失效統計調查發現零件不良造成失效比例佔60%，製程缺陷則佔40%。因此控制量產時零件與生產製程變將可有效控制RMA比例。
一般而言,當產品在市場出現失效時,通常已經數百或數千產品已經投入市場。因此,利用產品在設計階段執行HALT的數據經由驗證決定適當應力水準並轉換為HASA/HASS手法導入量產品質控制。
HALT/HASS效益
利用高加速環境應力可快速將產品潛在缺陷激發出來並於設計階段加以修正
作為產品量產時之高加速應力篩選(HighlyAcceleratedStressScreening)及高加速應力稽核(HighlyAcceleratedStressAudit)規格製定之參考
降低產品在市場之失效率及減少維修成本
建立產品設計能力資料庫，以作為研發依據並可縮短設計開發時間