氏(MIE)理论是考虑了物质对光的吸收与各种电磁作用来计算散射强度的理论。因此折射率是米氏计算一项不可缺少的参数。通常在软件设计中要计算几种折射率不同的模型来适用于不同物质的颗粒。因此折射率产生于测试之前，而不是颗粒粒度测量的结果。
因此使用粒度仪测试，首先需要确定样品的折射率，一般的用户根本不知道要测量的产品折射率的准确参数(据检索目前尚无一种仪器可以准确测量粉末的折射率，折射率表中表示的只是物质的折射率，而非粉末的折射率，二者之间有很大差别)，因此只好随意的选一种用来计算，如果计算不满意再换一种。如此的折射率准确程度有多大，难道不令人怀疑吗?
实际上研究结果表明，颗粒粒度测量的准确度，不仅与折射率有关，而且与颗粒形状，颗粒表面状态，颗粒浓度都有关。而后二者影响程度并不小于前者，为此，微纳公司的仪器不仅准备了16种不同折射率的模型，而且为颗粒粒度的综合校准提供了专门的软件。为了对用户负责，不至于给用户造成错觉，微纳公司在测试报告中没有表明折射率，原因是折射率并不能准确表示样品的特性。只不过是计算中使用的一种模式代号而已。
有人说：测试报告中没有折射率就不是米氏理论，这种说法是不全面的。有的仪器中采用的是弗朗和费衍射理论(如德国的新帕泰克公司)，当然不需要折射率。有的仪器公司虽然采用了米氏理论但是由于对用户负责的考虑不愿意标明折射率。显然微纳公司属于后者。