(1)测量电压分布。一般1～3年进行一次，绝缘子串在正常和有缺陷情况下，电压分布不同，有缺陷的绝缘子较正常的电压要小，其电压转移到绝缘正常的元件上，
可以通过测量电压分布确定其绝缘性能。
(2)绝缘电阻试验。悬式绝缘子每1～3年一次，用5000V兆欧表测每片绝缘子其阻值不小于300MΩ。
(3)高频耐压试验每1～3年一次。