泄漏试验的温度影响及补偿
在差压检漏法和绝对压力法一样都是遵循理想气体状态方程的，若检验气体未完全达到平衡状态，则温度必然对检测结果产生影响。
通常温度的影响主要来自两个方面，一是环境温度，二是工件温度。对于环境温度，应使整个检测系统处于同一环境温度下，在试验过程中还应避免环境温度的变化。此外，压力测量法中采用差压法时，使被测工件与标准样件处于同样的环境温度下，即可起到补偿作用。而对于工件温度，在差压检漏法中已提出应使工件处于室温状态,也就是说应尽可能从工艺流程上予以解决.这样即经济又可靠。但目前在我们一些现有的或新设计的生产线上，都很难实现使工件达到室温状态。特别是通常在试验前，需将工件清洗、吹干，在这种情况下应如何解决工件温度对测量结果的影响呢?可以采取以下几种方法：
第一种方法通常称为二次测量法，即将被试工件密封后，首先以低于所要求的试验压力充气测量，然后再按所要求的试验压力进行二次充气测量，显然这种方法将加速工件与检验气体温度趋于一致。这种方法因其测量精度较低，加之生产节拍的限制，故较少应用。
第二种方法称之为统计法。顾名思义，该方法是以实际试验所得到的统计数据为依据，找出其中的规律，并适当地修正废品值以满足测量要求。该方法结构简单，费用低，目前被广泛采用。例如，德国佛罗里西公司的检漏仪上就带有DPK键，即泄漏速率修正键，采用该键很容易实现统计法对测量结果的补偿。此外，采用该键还可用来缩短试验过程中的平衡时间，从而缩短整个试验时间。但是，应当指出的是，当工件不处于室温状态时就很难保证所有的工件都具有相同的温度。这种情况下，如果工件间的温差较大且检测精度又相对要求较高，则统计法也就无法满足要求了。
第三种方法是采用两个温度传感器，一个用于测量检验气体的温度，加一个测量被试工件的温度。其办法是根据泄漏标准工件，测出其与检验气体的各个温度差及相应压降值，依据废品点，作出一条温度、压降曲线，作为温度补偿曲线，并将此曲线编程到检漏仪中。在实际生产条件下，将再次测得的检验气体与被试工件之间的温度差及相应的压降值输入到仪器中，与所存入的温度补偿曲线相比较，即可得出补偿后的检测结果。
这种方法也可以用于补偿环境温度对测量结果的影响，其办法是用上述测量被试工件的温度传感器测量密封夹具的温度。但应当指出的是这种补偿方法也是遵循某种统计规律的，并不是依据理想气体的状态方程检测出检验气体的温度变化就可进行补偿的，因为在整个测量过程中检验气体不可能达到平衡状态。
采用温度补偿后其测量精度势必有所降低，并增加费用。在实际应用中，应按实际生产条件，做了同批工件的实验数据，从中选定一条适宜的曲线。