德国Automation公司成立于1958年。长期以来一直致力于开发、研制、生产涂层测厚仪。早在公司创始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父亲即开始研究涂层测厚仪。自发明世界上第一台测厚仪以来，尼克斯家族经过几代人的努力，为测厚仪领域做出了杰出贡献。同时，也保持了技术领先。在仪器的精度和抗干扰性方面，注册了多项专利。成为当今涂层测厚仪的独特优点。
QNix4200涂层测厚仪的产品特点：
1.只需调零、无需校准
2.Fe探头
3.一体化设计
4.自动开关机
QNix4200涂层测厚仪的技术参数
型号
QNix4200
QNix4500
基体
Fe
Fe/NFe
探头形式
一体
显示
LCD数字显示
测量范围
0－3000μm
Fe:0-3000μm
NFe：0－2000μm
测量精度
0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，
2000－5000μm≤±3%
显示精度
1μm
工作温度
－10－＋60℃
温度补偿
0－50℃
最小基体
10mm×10mm
最小曲率
凸、凹半径：3mm/25mm
最薄基体
Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
电源
5号电池2节
重量
110g
尺寸
110×60×27mm