TRI三端電容極性測試
n三端電容極性軟硬體需求
n三端電容極性測試原理
n三端電容極性測試程式說明
n三端電容極性軟硬體需求
1.TR-518FE:
.硬體需求:
DCBOARD的版本需為518FE-002-18或之後的版本
舊版本的DCBOARD無法使用.
.軟體需求:
WINDOWS:V2.00E或之後的版本
2.TR-518FR:
.硬體需求:
DCBOARD的版本需為518FR-002-11或之後的版本.
舊版本的DCBOARD需更新U64EPLD為以下所述才能使用:
518FR-002-6:(FRDCU647.pof,CC3BB)
518FR-002-8,518FR-002-10:(FRDCU646.pof,CD76F)
.軟體需求:
WINDOWS:V2.00C或之後的版本
3.TR-8001:
.硬體需求:
MDABOARD的版本需為518FR-002-8或之後的版本.
舊版本的MDABOARD需更新U64EPLD為以下所述才能使用:
8001-002-6:(MDAU322.pof,1B6FB9)
.軟體需求:
V1.03B或之後的版本
n三端電容極性測試原理
1.三端電容極性測試原理是利用電解電容的負極與
外殼間的阻抗遠比正極與外殼間的阻抗小,因此可
以在電容的正負極間施加一直流電壓0.2v,並量
測電容的外殼電壓值,由此電壓值可以判斷出電容
反插或缺件.
2.由於必須量測外殼電壓,故只有直立式電解電容
才能檢測.
3.圖一為直立式電解電容的等效電路.
4.圖二為電容正常時的檢測電路示意圖.量到電容
外殼電壓為Vo1.
5.圖三為電容反插時的檢測電路示意圖.量到電容
外殼電壓為Vo2.
6.圖四為電容缺件時的檢測電路示意圖.量到電容
外殼電壓為Vo3.
7.圖五為電容外殼電壓Vo1,Vo2,Vo3的比較圖,
由於R1>Vo2,
Vo1>>Vo3.因此可以輕易的判斷出電容是否有反插
或缺件.
:
n三端電容極性測試程式說明
1.測試點：
G-P1:5
-
+
Cap.
HiP:1
LoP:3
2.測試程式：
PartNameAct_VStd_VHlim%Llim%ModeTypeHipLopDlyG-P1
CE10.20.12V-1208PX1305
CE110.20.001V-12018PX1113015
說明：
測試原理為從HiP送sourcevoltage，然後從G-P1讀回量測值，由於缺件或反插，其量測值很低(接近0)，所以只比較下限，上限Don’tcare。
lAct_V：Sourcevoltage，建議值為0.2V
lStd_V：SenseVoltage(Threshold)，依實際Debug後決定
lHlim：固定為–1(Don,tcare)
lLlim：建議值為20，可依實際Debug後決定
lMode:固定為8或18(適用於防爆電容)
lType：固定為PX
lHip：電容負端(sourcepin)
lLop：電容正端
lDly：依實際Debug後決定
lG-P1：SensePin
3.除錯規則：
l將Hip/Lop相同的電容放在一起，例如CE1,CE2,CE3的HiP及LoP都是1及3，所以測試程式如下：
PartNameAct_VStd_VHlim%Llim%ModeTypeHipLopDlyG-P1
CE10.20.12V-1208PX1305
CE20.20.12V-1208PX1307
CE30.20.12V-1208PX1309
CE40.20.15V-1208PX2021022
CE110.20.001V-12018PX1113015
CE120.20.001V-12018PX1113017
lDebug時可交換HiP及Lop比較量測值，以決定較佳之Threshold(Std_V)
l缺件量測值顯示為–1，反向Mode18量測值為負值，Mode8則低於Threshold*(1-下限%)
l若交換HiP及Lop量測值差異不大可調整Delaytime或Sourcevoltage(Act_v)
l若交換HiP及Lop量測值皆很低，可能是第三端接觸問題，可先檢查第三端是否接觸正常或待測電容有歪斜，可用換針或扶正待測電容方式解決
l治具製作時第三端選用測試針，需考慮相同位置待用料的高度差異，以免造成接觸不良或刺穿待測物的問題
l三端電容量測是用來檢測缺件及反向，無法檢測錯件
l可利用量測分析工具(HotKeyF12)，決定較佳Threshold，Delaytime
縱軸為量測值，橫軸為Delaytime，紅線表正常時曲線，藍線為勾選改變高低點的反向曲線