自动光学检查（AOI）已成为有效的过程控制工具,使用AOI的好处有很多，例如可以提高在线测试（ICT）或功能测试的通过率、降低目检和ICT的人工成本、避免使ICT成为产能瓶颈甚至取消ICT、缩短新产品产能提升周期以及通过统计过程控制（SPC）和统计质量控制（SQC）改善制程成品率等等。本文将重点介绍如何利用AOI进行实时统计过程控制。
质量意识很强的原始设备制造商（OEM）和电子制造服务商（EMS）们都已成功导入了AOI，总的来讲，它们对缺陷检测及良品率改善都有所加强，只要得到这些结果，就可以说AOI的使用是非常成功的。其实利用AOI还可以做很多事，例如目前生产系统会生成大量数据，这些数据就可用来优化生产线状况、检测故障以及查出有问题的机器与工艺以便立即纠正。
将AOI作为测量工具
总体来说，使用AOI能实现两类测量，即缺陷检测（传统意义的AOI应用）和每块PCB上的差异测量。其中差异测量对实时SPC应用非常重要，根据AOI系统类型及它所处生产线位置的不同而不同。对有效的过程控制而言，两类测量都需要。
很多厂商已经认识到快速获取设备状态信息以及采取立即纠正措施很有必要。我们把积累的知识转换成纠正措施的过程称为知识周转，知识周转率对一个公司是至关重要的，因为学得快可以提高利润率，在学习速度上很小一点改善就能使产品产量和品质得到提升，因此很多公司在实际生产中都将加快知识周转作为指导思想（图1）。
AOI具有在线采集数据的能力，可提高知识周转和过程优化率，加快AOI系统投资成本的回收。为了实现快速知识周转，可以用AOI来完成SPC。从效果上说，AOI是加快知识周转思想的中枢，因为它能提供分析和过程反馈所需的实时量测数据，这些数据包含了实时监控和数据采集、数据分析以及自适应控制的能力。SPC可在一条或多条电子制造生产线上实施，并能融入到工厂管理系统以取得更好的效果。