测厚仪覆层厚度丈量说明

  仪器信息网 ·  2011-04-18 23:07  ·  31632 次点击
对材料表面保护、装饰形成的笼盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学天生膜等,在有关国家和国际尺度中称为覆层覆层厚度丈量已成为加工产业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量尺度的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的丈量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差丈量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性丈量法及涡流丈量法等。这些方法中前五种是有损检测,丈量手段繁琐,速度慢,多合用于抽样检修。
X射线和β射线法是无接触无损丈量,但装置复杂昂贵,丈量范围较小。因有放射源,使用者必需遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层丈量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。跟着技术的日益提高,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。丈量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的进步。它合用范围广,量程宽、操纵简便且价廉,是产业和科研使用最广泛的涂层测厚仪测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行丈量原理与仪器。
电涡流丈量原理:
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间间隔的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。因为这类测头专门丈量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,答应误差1%,量程10mm的高水平。
采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可丈量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可丈量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。固然钢铁基体亦为导电体,但这类任务仍是采用磁性原理丈量较为合适。

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