影响原因的有关说明
a基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响，为了避免热处理和冷加工原因的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪表运行校准;亦可用待涂覆试件运行校准。
b基体金属电性质
基体金属的电导率对量测有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。
使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪表运行校准。
c基体金属厚度
每一种仪表都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，量测就不受基体金属厚度的影响。
d边缘效应
本仪表对试件表面形状的陡变敏感。所以在靠近试件边缘或内转角处运行量测是不可靠的。
e曲率
试件的曲率对量测有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。所以，在弯曲试件的表面上量测是不可靠的。
f试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，所以在这些试件上测出可靠的数据。