全息干涉量度技术（interferometrichologramevaluation）
利用二次曝光或连续曝光全息图可以将物体变化状况记录在同一张全息底片上，再现时就得到相互交叠的像，这二个或多个光波就会发生干涉，从干涉条纹的分析中可以得出物体的变化情况，这就是全息干涉量度技术，利用它可研究物体微小形变或微小振动、高速运动的现象，封闭容器的爆炸过程等，这种方法的优点是可对任意形状、任意表面进行研究。