泰曼-格林干涉仪（Twyman-Greeninterferometer）
泰曼-格林干涉仪是检测光学元件的重要仪器，由L1给出一束平行准单色光，经分束板P分成两束相互垂直的反射光和透射光，前者入射到平面镜M1后，沿原路返回再经分束板到达投射物镜L2。透射光束经过处于最小偏向角位置的棱镜P2后，垂直入射到平面镜M2上，经M2反射后，经原路返回，并由分束板P反射到达投射物镜L2。若棱镜是完善的，则在L2后焦平面处看到一均匀的视场，如棱镜有缺陷，两次通过棱镜的平行光的波面发生形变，与M1反射的光发生干涉。被检测的光学元件可以是平板或透镜。