阿贝比长仪

  Aaron ·  2010-08-06 21:50  ·  39552 次点击
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一种精密测量直线距离的仪器,简称比长仪。在天文工作中,用于测量底片上谱线间的距离。比长仪的量程200毫米,测量精度可达±1.5微米。仪器分三部分:①精密导轨。②置片台,是一块可沿导轨移动的钢板,它的一侧装着一条透明毫米尺,另一侧放待测底片。③两架固定联结的显微镜:一架用来对准光谱线(或物体),称为对准显微镜;另一架用来对准毫米尺上的刻线和读数,称为读数显微镜。移动置片台,当对准显微镜从对准一条谱线到另一条谱线时,读数显微镜对准的毫米尺上的二次读数之差,即为谱线间的距离。根据阿贝提出的原理,只要待测对象和毫米尺精确地位于同一高度,置片台的滑动误差就不会影响测量精度。为了消除对准误差,可将底片转180°再测量一遍。熟练的测量者用这种仪器测量不对称的谱线,精度往往比自动测量仪器还高。用比长仪测量底片上待测谱线和比较谱线的位置,根据经验公式就可以计算出待测谱线的波长。
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