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数显测厚仪BMH-J3
√应用范围
√技术特征
√技术参数
√关键词
数显测厚仪BMH-J3
纸张测厚仪，薄膜测厚仪
√应用范围
主要适用于测定薄膜、薄片等材料的厚度。
√技术特征
1．测量范围宽，测量精度高
2．可任意位置置零
3．公英制转换特点
4．数据输出功能
5.便携式设计，携带更方便
√技术参数
1．测量范围：（0-25）mm
2．分辨率：0.001mm
3．电源：氧化银电池SR44
4．工作温度：0℃～+40℃
5．储运温度：-20～+70℃
6．相对湿度：≤80%
√关键词
便携式测厚仪、数显测厚仪、手持式测厚仪、薄膜测厚仪、纸张测厚仪、测厚规
data/attachment/portal/201111/06/152946kqys7k1vxbbbh17d.jpg数显测厚仪