热阻测试仪
Aaron · 2010-08-06 23:33 · 23162 次点击
可按标准(国标:GB/T4587-94)测量硅功率双极型晶体管(NPN和PNP型)的瞬态热阻和稳态热阻,还可按标准(国标:GB/T4023-1997)测量普通二极管热阻、按中国光协光电器件专业分会行标(GD/T1-2003)测量发光管热阻。解决目前LED显示屏、半导体照明中所用光电器件迫切要求解决的热阻测试问题。
●可进行器件在指定工作条件下的综合热可靠性快速筛选。
●配套微机可显示、存储、打印测量过程中的有关中间数据。
技术指标:
●内部提供电压源:5~36V连续可调,可外接5~100V电源。
●内部提供电流源:10~200mA和200mA~5A两档,连续可调
●加热电压:测量范围:0~100V,不确定度:≤±2%
●加热电流:测量范围:10~200mA和200mA~5A,不确定度:≤±2%
●热敏参数:测量范围:±2.5V,不确定度:≤±(0.6%+0.6mV)
●加热脉冲时间设定范围:300μs~1800s。
●仪器功耗(测试主机):不大于350W。●外形尺寸:540mm(W)×220mm(H)×440mm(D)。
●重量:25kg(测试主机)
使用条件:
●环境温度:0~40℃。
●相对湿度:≤95%(0~30℃);
≤75%(30~40℃)。
●电源电压:AC220V±10%。
●电源频率:50Hz±2Hz。
●预热时间:15分钟
●周围环境:系统周围应没有强电磁
干扰及有害气体腐蚀。