可按标准(国标：GB/T4587-94)测量硅功率双极型晶体管(NPN和PNP型)的瞬态热阻和稳态热阻，还可按标准(国标：GB/T4023-1997)测量普通二极管热阻、按中国光协光电器件专业分会行标(GD/T1-2003)测量发光管热阻。解决目前LED显示屏、半导体照明中所用光电器件迫切要求解决的热阻测试问题。
●可进行器件在指定工作条件下的综合热可靠性快速筛选。
●配套微机可显示、存储、打印测量过程中的有关中间数据。
技术指标:
●内部提供电压源：5～36V连续可调，可外接5～100V电源。
●内部提供电流源：10～200mA和200mA～5A两档，连续可调
●加热电压：测量范围：0～100V，不确定度：≤±2%
●加热电流：测量范围：10～200mA和200mA～5A，不确定度：≤±2%
●热敏参数：测量范围：±2.5V，不确定度：≤±(0.6%+0.6mV)
●加热脉冲时间设定范围：300μs～1800s。
●仪器功耗（测试主机）：不大于350W。●外形尺寸：540mm(W)×220mm(H)×440mm(D)。
●重量：25kg（测试主机）
使用条件:
●环境温度：0～40℃。
●相对湿度：≤95%(0～30℃)；
≤75%(30～40℃)。
●电源电压：AC220V±10%。
●电源频率：50Hz±2Hz。
●预热时间：15分钟
●周围环境：系统周围应没有强电磁
干扰及有害气体腐蚀。