HotDisk的测量原理是基于SilasGustafsson博士发明的瞬变平面热源法（TransientPlaneSourceMethod、TPS）。
在本方法中，探针是一个平面的探头，探头是由导电金属镍经刻蚀处理后形成的连续双螺旋结构的薄片，外层为双层Kapton保护层。外层的Kapton保护层的厚度只有0.025mm，它令探头具有一定的机械强度，同时保持探头与样品之间的电绝缘性。探头通常被放置于两片样品中间进行测试，HotDisk提供了不同尺寸与构造的探头供客户选择，适用于各种不同性质样品的测试。
HotDisk所采用的瞬变方法与静态方法相比具有很多优点。首先，测试速度更加快速。你只需直接测试由探头传到样品中的热量，而不必等待样品中形成温度梯度，因此可以节约大量的时间。其次更为重要的是，瞬变平面热源法(TPS)不会受到接触电阻的影响。在一般方法中，热电偶与样品之间形成的接触电阻是测试方法的固有误差，一般方法本身无法对其进行补偿，即使在热导率只有1-2W/mK时，接触电阻所产生的消极作用仍无法避免。
在瞬变方法中，只有在未受干扰的材料中的热传播得到的资料被用于计算，由探头保护层、表面粗糙或探头与样品间小气穴引起的干扰资料可以很容易地被排除掉。