首先我们来看一下AQ6360在光芯片测试方面做了哪些变化。
相对于经典款，AQ6360最主要的改变是三点，波长范围、波长分辨率、扫描速度。而这三个指标恰恰是测试光芯片最为看重的关键点。AQ6360波长范围变为1200~1650nm，覆盖了通信最常用的1310nm和1550nm。波长分辨率最小是0.1nm，适用于如光芯片测试、EDFA测试、光器件测试等大多数的应用场合。同时为了更适合生产线使用，扫描速度提升到之前的2倍，体积也适当变小了。
AQ6360仍保持着横河传统的空间自由光构造设计，因此可以利用多模光纤(或大芯径光纤)有效地捕获来自晶圆片(Wafer)、芯片(LDchip)、TO-CAN或TOSA的自由空间激光束，可以显著减少测试时间来提高吞吐量。相同设置条件下，扫描速度可是AQ6370D的两倍不止，能给客户提升的产能是可预见的。
扫描速度
扫描速度，在选型时是大部分客户最为关注的，因为对光芯片测试的企业来说，他们测试的芯片数量可能要以百万为单位，那么提升每个芯片的测试效率就非常重要了。
波长精度
这里顺便也做一下AQ6360与AQ6150（波长计）的对比，看一下AQ6360实际的波长精度到底有多好。AQ6360波长精度指标是±0.02nm（20pm），AQ6150波长精度是±1pm。所以AQ6360可以给客户带来前所未有的“快感”，却又能保证测试的精度。
上图对比可以看出AQ6360实际的精度要好很多，大概4pm左右，完全能够跟市场上一些波长计相媲美。所以它的性能相当出色！