气相色谱小知识A所有组分峰变小
可能原因建议措施
1进样针缺陷使用新针或无缺陷的针
2进样后漏夜判断漏夜点，维修之
3MAEUP过大：分流比过大调整气体流速和分流比
4分析物质分子量过大，底挥发样品时提高INJ。OVEN（主要柱子的最高使
样品的汽化温度过低，或柱温度低用温度）
5NPD被污染物（二氧化硅）覆盖更换铷珠
6NPD温度过高（使用或环境温度），气体不纯更换铷珠：避免高温使用
7不分流进样，分流阀关闭快：初始OVEN温高
8检测器与样品不匹配
9样品的挥发调整样品的的浓度或选择合适的溶剂
B峰伸舌
峰伸舌多右色谱柱过载减小进样量(可能需提高仪器的sensitivty
使用大容量柱子：提高OVEN，INJ温度：
增大气体流速
C峰高峰面积不重复
1进样不重复，偏差大自动进样器：加强手动进样的练习
2其他峰型变化引起的峰错位，干扰
3基线的干扰
仪器系统参数设定的改变参数标准化，规范化
D负峰
1Detector有数据处理系统信号极性接反信号连接倒置
2TCD中，样品导热系数大于载气导热系数选择数据处理中的“负峰处理”
3ECD被污染，可能在正峰后跟随负峰清洗ECD，更换之（若有必要）
E样品的检测灵敏度下降
1色谱柱，衬管被污染，使活性物质灵敏度小将清洗衬管：用溶剂（优级纯甲醇）清洗色谱柱：更换之（如有必要）
2进样时样品渗漏（对易挥发物质更甚）查找渗漏点
3在splite汽化进样中，OVEN初始温度过高用低于样品溶剂的初始温度；致使样品汽化后扩散加剧，导致撕沸点样品灵敏度下降使用高沸点溶剂
F峰分叉
1进样过激，不稳定，形成二次进样练习手动进样：使用自动进样器
2色谱柱安装失败重新安装
3spliteless或柱头进样，样品溶剂的混合使用相同的溶剂
4柱子温度波动修理稳控系统
5spliteless进样，量大，时间长。希望用“溶剂在毛细管色谱柱前端安装5米的去
效应“谱带浓缩时，溶剂的固定相的湿润性差活化，未覆盖固定液的毛细管
溶剂将在柱子中形成几米长，厚度不等的溶剂带
破坏正常的浓缩，使峰拉宽分叉
J峰拖尾
1衬管，色谱柱被污染；有活性点清洗，更换之（如有必要）
2衬管，色谱柱安装不党，存在死体积注射甲烷，峰若拖尾，则重新安装
3色谱柱柱头不平用金刚砂切割，使之平
4固定相的极性指标与样品分析不匹配换匹配的柱子
5样品流通路线中有冷井消除路线中的过低温度区
6衬管或色谱柱中有堆积切割碎屑清洗更换衬管；切除柱头10cm
7进样时间过长缩短之
8分流比低增大分流比（至少大于20/1）
9进样量过高减小进样体积或稀释样品
10醇胺，伯胺，叔胺和羧酸类易拖尾用极性大的色谱柱；样品衍生处理
H保留时间漂移
1温度变化检查柱温箱的温度
2气体流速变化注射甲烷，测定载气线速度
3进样口泄露检查进样垫；判断其他泄露处
4溶剂条件变化样品，标准品使用相同的溶剂
5色谱柱被污染切除柱头10cm；高温老化，清洗
I分离度下降
1色谱柱被污染方法同上
2固定相被破坏（柱流失）更换之
3进样失败检查泄露，维修之检查吹扫时间
检查温度的适应性；检查衬管
4样品浓度过高稀释；减少进样量；用高分流比
H溶剂峰拉宽
1色谱柱安装失败
2进样渗漏
3进样量高提高汽化温度
4分流比低提高分流比
5OVEN低
6分流进样时，初始OVEN过高降低初始柱温，使用高沸点溶剂
7吹扫时间过长（不分流进样）定义短时间的吹扫程序
基线问题
A基线向下漂移
1新安装的柱子，基线连续向漂移几分钟继续老化
2检测器未达到平衡延长检测器的平衡时间
3检测器或GC系统中其他部分有沉积物被烤出来清洗之
B基线向上漂移
1色谱柱固定相被破坏
2载气流速下降调整载气压力；清洗压力和流量调节阀
C噪音
1毛细管末插入检测器太深重新安装色谱柱
2使用ECD，TCD气体泄露引发基线噪音检查，维修气路
3FID，NPD，FPD燃气流速或燃气选择不当高纯燃气，调整流速
4进样口被污染清洗进样口；更换搁垫；更衬管中的玻璃纤维或硅烷化
5毛细管色谱柱被污染切除首端10cm；用溶剂清洗色谱柱；更换之
6检测器发生故障维修，更换之
7检测器电路发生故障联系生产商或维修机构（专业）
DOffset(基线位置的突然改变
1电源电压波动使用稳压器
2电路接口处连接不好检查，清洗其接口处，拧紧接口
3进样口被污染
4色谱柱被污染
5毛细管末端插入检测器太深
6检测器被污染
E毛刺
1电磁干扰关闭电磁干扰源
2颗粒污染进入检测器
3气路密封松动，气体泄露拧紧松动的密封
4检测器内部电路接口或输入，输出信号接口松动检查，清洗，拧紧接口，更换之
积尘或被腐蚀
FWander（低频率的噪音）
1温度，压力等环境条件的波动找到环境因素变化与基线的关系，然后稳定之
2温度控制漂移测量检测器的温度
3载气中含杂质（温度稳定时）更换载气或气体净化器
4进样口被污染
5毛细管被污染
6气体流速控制失灵清洗或更换气体