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千份尺测量面的平面度用光隙法如何检定?

  lh660251 · 2009-03-16 16:45 · 72789 次点击

对于新制和修理后的千分尺的测量面的平面度是用二级平晶以技术光波干涉法检定,对于后续检定的用刀口尺用光隙法检定,可如何操作?

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3 条回复

忆秦横塘 2009-03-30 13:49: 期待正确解决答案

lh660251 2009-03-29 16:39: 我们没有2级量块,只有5寺量块,行吗?

向荣 2009-03-17 20:25: ** 1# _lh660251_ **

用二级平晶和二级量块组成标准间隙，比校测量即可。

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