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千分尺的校准

  lh660251 ·  2009-03-16 17:05  ·  49459 次点击
大于150mm以上的千分尺在校对零位时很难对准,我想请教各位老前辈谈谈自己的成功经验,如何做才能既准又快?
千分尺, 几何量计量, 千分尺, 校准

9 条回复

mailqq  2009-07-10 20:13
我又学到新知识了 谢谢了
本文来自: 中国计量论坛[www.520cal.cn] 详细出处参考：http://www.520cal.cn/thread-29977-1-1.html
cuidebin  2009-04-17 19:10
我又学到新知识了 谢谢了
lh660251  2009-04-14 21:22
7#朋友
我有新JJG -2008,我也是在此网站上下载的,如果你需要我也可以发给你.
inkee  2009-04-13 11:01
5#的朋友
请问你有新JJG-2008的电子版本吗?
lh660251  2009-03-17 19:49
我希望通过这个网站学实际性的操作,即如何提高计量检定员的检定技术,可是好像很难---
lh660251  2009-03-17 19:40
2楼朋友,你的千分尺的检定规程已经过时了,新的JJG-2008有空去看看,里面很多内容已经变化了,没有0级和1级之分.
chinagaow  2009-03-17 12:58
2楼好友，非常感激您的回复！让我学习了许多知识！
wxw204778  2009-03-17 11:42
这不是检定规程吗？
jcgscbj  2009-03-17 08:08
千分尺檢定規程

傳動原理﹕千分尺是應用螺旋副傳動原理﹐將回轉運動變為直線運動的一種量具﹐主要用來測量各種外形尺寸及外徑。
檢定項目及檢定用的主要工具如下表﹕
序號 受檢項目 檢定用的主要工具 檢定類別
新買的 使用中 修理后
1 外觀 目力觀察 + + +
2 各部件相互作用 目力觀察及手動試驗 + + +
3 測微螺杆的軸向串動和徑向擺動 杠杆千分尺 + + +
4 測砧與測微螺杆工作的相對偏移 平板﹐杠杆百分表 + - +
5 測力 專用測力計 + + +
6 刻線寬度及寬度差 工具顯微鏡 + - +
7 指針與刻線盤的相對位置 塞尺 + + +
8 微分筒錐面棱邊至固定套管刻線面的距離 工具顯微鏡﹐塞尺 + - +
9 微分筒錐面的端面與固定套筒管毫米刻線的相對位置
+ + +
10 工作面的表面粗糙度 表面粗糙度比較樣塊 + - +
11 工作面的平面度 2級平晶﹑1級刀口尺 + + +
12 兩工作面的平行度 平行平晶﹑4等 5等量塊﹑鋼球檢具 + + +
13
示值誤差 4等﹑5等量塊或相應的專用量塊 + + +
14
校對用的量杆 光學計﹑測長機﹑4等量塊 - - -
“+”表示應該檢定﹐“-”表示可不檢定

受檢千分尺測量范圍（mm） 室內溫度對20℃的允許偏差（℃） 平衡溫度的時間（h）
千分尺 核對用的量杆
0-100
±5 ±3 2
100-500
±4 ±2 3

技朮要求和檢定方法﹕
1.外規要求
1.1.千分尺及其校對用的量杆不應有碰傷﹑鏽蝕﹑帶磁或其他缺陷﹑刻線應清晰﹑均勻
1.2.千分尺應附有調整零位的工具﹐測量上限大于25mm的千分尺附有校對用的量杆
1.3.千分尺上應標有分度值﹑測量范圍﹑制造廠名（或廠標）及出廠編號
1.4.使用中和修理后的千分尺及其校對用的量杆不應有影響使用准確度的外觀缺陷
檢定方法﹕目力觀察
2.各部分的相互作用
要求
2.1.微分筒轉動和測微螺杆的移動應平穩無卡住現象
2.2.可調或可換測目砧的調整或裝卸應順暢﹐作用要可靠﹐鎖緊裝置的作用應切實有效
檢定方法﹕試驗和目力觀察
3.測微螺杆的軸向串動和徑向擺動
要求﹕
3.1.測微螺杆的軸向串動和徑向擺動均不大于0.01mm
檢定方法﹕
3.2測微螺杆的軸向串動﹐用杠杆千分表檢定﹐檢定時﹐使杠杆千分表與測微螺杆測量面接觸﹐沿測微螺杆軸向方向分別往返加力3N-5N﹐杠杆千分表示值的變化﹐即為軸向轉動量
3.3.測微螺杆的徑向擺動亦用杠杆千分表檢定﹐檢定時﹐將測微螺杆伸出尺架10mm后﹐使杠杆千分表接觸測微螺杆端部﹐再沿杠杆千分表測量方向加力2N-3N﹐然后以相反方向加力2N-3N﹐這一檢定應在相互垂直的兩個徑向方向檢定﹐杠杆千分表示值的變化﹐即為徑向擺動量
4.測砧與測微螺杆工作面相對偏移
4.1.千分尺測砧測微螺杆工作面的相對偏移量應不大于下表之規定﹕
測量范圍（mm） 測砧與測微螺杆工作面的相對偏移量（mm）
0-25 0.1
25-50 0.15
50-75 0.2
75-100 0.3

檢定方法﹕
4.2.在平板上用杠杆百分表檢定﹐用百分表測出測砧與測微螺杆在這一方位上的偏移量x﹐然后將尺架側轉90˚﹐按上述方法測出測砧與測微螺杆在另一方位上的偏移量y﹐測砧與測微螺杆工作面的相對偏移量∆按下式求得﹕
∆=√x²+y²
5.測力
要求﹕
5.1千分尺的測力（系指工作面與球面接觸時所作用的力）應在6N-10N范圍內
檢定方法﹕
5.2用分度值不大于0.2N的專用測力計檢定﹐檢定時﹐使工作面與測力計的球工作面接觸后進行
6.刻線寬度及寬度差
要求﹕
6.1.固定套管縱刻線和和微分筒上的刻線寬度為0.15-0.20mm﹐刻線寬度差應不大于0.03mm﹐刻線盤的刻線寬度為0.20-0.30mm﹐刻線寬度差不大于0.05mm
檢定方法﹕
6.2.在工具顯微鏡上檢定﹐微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽檢三條刻線
7.指針與刻度盤相對位置
要求﹕
7.1.板厚千分尺刻度盤上的指針末端應蓋住刻線盤短刻線長度的30-80%﹐指針末端上表面刻度盤表面的距離應不大于0.7mm﹐指針末端與刻度盤刻線的寬度應一致﹐差值應不大于0.05mm
檢定方法﹕
7.2.指針末端與刻度盤短刻線的相對位置可用目力估計﹐指針末端上表面至刻度盤表面的距離應用塞尺進行檢定﹐上述檢定應在刻度盤上均勻分布的三個位置上進行﹐指針末端與刻度盤的刻度的寬度差在工具顯微鏡上檢定
8.微分筒錐面的端面棱邊至固定管刻線面的距離
要求﹕
8.1.微分筒錐面的端面棱邊至固定管刻線面的距離應不大于0.4mm
檢定方法﹕
8.2.在工具顯微鏡上檢定﹐也可用0.4mm塞尺置于固定管刻線表面上用比較法檢定﹐檢定時在微分筒轉動一周內不少于三個位置上進行
9.微分筒錐面的端面與固定管毫米刻線的相對位置
要求﹕
9.1.當測量下限調整正確后﹐微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對准時﹐微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應相切﹐若不相切﹐壓線不大于0.05mm﹐離線不大于0.1mm
檢定方法﹕
9.2.當測量下限調整后﹐使微分筒錐面的端面與固定管任意毫米刻線的右邊緣相切時﹐讀取微分筒的零刻線與固定套管縱刻線的偏移量
10.工作面的表面粗糙度
要求﹕
10.1.外徑千分尺和校對量杆的工作面的表面粗糙度Ra應不大于0.05mm壁厚﹑板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra應不大于0.10mm
檢定方法﹕
10.2.用表面粗糙度比較樣塊用比較法檢定
11.工作面的平面度
要求﹕
11.1.零級外徑千分尺工作面的平面度不大于0.6mm﹐1級外徑千分尺工作面的平面度不大于1mm﹐壁厚千分尺測微螺杆工作面的平面度不大于1.2mm﹐板厚千分尺工作面的平面度應不大于1mm
檢定方法﹕
11.2.用二級平晶用技朮光干涉法檢定﹐對于使用中的可用1級刀口尺用光隙法檢定﹐工作面直徑為6.5mm的距離邊緣0.2mm范圍內不計﹐對于8mm的﹐距離邊緣0.5mm范圍內不計
12.工作面的平行度
要求﹕
12.1.當外徑千分尺鎖緊裝置緊固與松開昱千分尺兩工作面的平行度應不大于下表規定
測量范圍 平行度
0級 1級
0-25 1 2
25-50 1.3 2.5
50-75 1.4 2.8
75-100 1.5 3
檢定方法﹕
12.2.使用平行平晶檢定時﹐依次將4塊厚度差為1/4螺距的平行平晶放入兩工作面間﹐轉動微分筒﹐使兩工作面與平行平晶接觸﹐并輕輕轉動平晶﹐使兩工作面出現的干涉條紋數減至最少時﹐分別讀取兩工作面上的干涉條紋數﹐取兩工作面上的干涉條紋數目之和與所用光的波長值的計算結果作為兩工作面的平行度﹐利用平行平晶組中每一塊平晶按上述程序分別進行檢定﹐取其中最大一組平行度值作為受檢千分尺的兩工作面平行度檢定結果
13.示值誤差
要求﹕
13.1.外徑千分尺的示值誤差應不超過下表中的規定﹕
測量范圍（mm） 示值誤差（mm）
0級 1級
0-25 0 0
25-50 0 1
50-75 1 1
75-100 1 2
14.校對用的量杆
14.1.校對用的量杆尺寸偏差和兩工作面的平行度應不超過下表中的規定﹕
校對用的量杆的標稱尺寸（mm） 尺寸偏差（mm） 工作面的
平行度（mm）
0級 1級
25 1 2 1
50 1.5 2 1
75 1.5 2 1.5
100-125   
2.5 2
檢定方法﹕
14.2.量杆的尺寸及工作面的平行度在光學計或測機上采用4等量塊用比較法進行檢定﹐對于平工作面的量杆應采用球面測帽在圖1所示的5點上進行檢定﹐各點尺寸偏差均不應超過上表的規定﹐5點中的最大值與最小值為量杆兩工作面的平行度


15.檢定結果處理和檢定周期
15.1.經檢定符合規程要求的千分尺應填發檢定証書﹐不符合本規程要求的千分尺﹐填發檢定結果通知書
15.2.千分尺檢定的周期可根據使用的具體情況確定

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