A/D转换芯片的测试环境方法

  新闻专员 ·  2010-01-08 10:06  ·  28294 次点击
所谓的混合信号测试,是指对A/D、D/A、锁相环等兼有数字和模拟两种信号的混合电路芯片的测试。混合信号测试的测试时间长、费用高、测试系统结构复杂,在实现上具有一定难度。而数字电路测试系统有着出色的测试能力,如足够的向量深度、灵活的数据格式、常规的交直流参数测试能力等。添加必要的程控模拟源以及模拟信号测试设备,运用系统集成的方法,用高信噪比的数字电路测试系统以及带有GPIB或VXI接口的设备构造A/D、D/A待转换芯片的测试环境,完全可扩展到混合信号电路的测试领域,可以在一定程序上解决混合信号测试的问题。
由NI公司出品的Labview语言,是一种图形化编程语言,也是最通用的工程测试语言。Labview本身附带的软件包提供了大量带有GPIB接口的可程控测试设备的驱动程序,在测试程序中添加这些现在的驱动程序模块,很容量实现对外部设备的操作,使软件编程变量非常简单;Labview库函数中的DSP函数,可以方便地进行数据处理,作频谱分析。选用Labview构成测试的软件环境,运用系统集成的方法实现数字电路测试系统向混合信号测试的扩展,可以依据不同的测试品种和测试要求,对系统灵活地加以配置,不管是软件编写还是硬件集成都非常方便、灵活、快捷。
在构筑测试系统时,要充分考虑到以下三方面问题:系统中各部分的同步协调工作、降低系统噪声、阻抗匹配。

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