半导体激光器芯片检测，需要SMU输出电流驱动发光二极管，并测量光电传感器的输出电压，同时使用光谱分析仪对发光二极管的发光波长和光谱特性进行检测。
  
  由于光电传感器产生的电压很小，需要源表具有很高的分解能力和测量精度。
  
  同时为了避免发光二极管过热，提高检测速度，驱动电流需要以窄脉冲扫描的形式进行输出，这就对SMU的响应和测量速度提出了很高要求。这样的检测工作在生产线上可能需要连续24小时进行，SMU的稳定性也至关重要。