涂膜测厚仪在测量前要做二点校准和零点校准，二点校准就是把标准膜片放在金属基片上测试，如果在允许误差就不需要进行二点测试，如果误差很大校准结束后在测试标准片，直到显示的数据正常为止。零点校准就是将机器打开调到零点校准的模式，在被测工件上测试然后完成就可以。
涂膜测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。在做磁性测厚法的时候要注意以下八点：
1.在进行磁性测厚法的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2.在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。
3.在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
5.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
6.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
7.在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
8.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此在进行对侧头清除附着物质。