统计过程控制概述
仪器信息网 · 2011-01-21 21:17 · 8562 次点击
统计过程控制概述
统计过程控制主要解决两个问题:一是过程运行状态是否稳定,二是过程能力是否充足。前者可利用控制图这种统计工具进行测定,后者可通过过程能力分析来实现。统计过程控制理论是从制造业中的加工过程开始的,但是目前其应用已扩展到各种过程,如设计过程、管理过程、服务过程等。
统计过程控制的实施包括过程识别、过程分析和过程控制等阶段。
一、过程控制的基本概念
生产过程是产品质量形成的关键环节,在确保设计质量的前提下,产品质量很大程度依赖于生产过程质量。过程控制是指为实现产品生产过程质量而进行的有组织、有系统的过程管理活动。目的在于为生产合格产品创造有利的生产条件和环境,从根本上预防和减少不合格品的产生。
过程控制主要内容包括:
1、对过程进行分析并建立控制标准;
确定要因和关键过程并建立关键过程控制点,制定控制文件和标准。
2、对过程进行监控和评价;
采用不同的方法对过程进行监控,对过程变异进行预警,对过程质量进行评定。
3、对过程进行维护和改进。
通过分析评价消除异因,实现过程质量的不断突破。
二、统计过程控制
20世纪20年代美国贝尔电话实验室成立两个研究质量的课题组,一为过程控制组,学术领导人为休哈特;一为产品控制组,学术领导人为道奇。其后由休哈特首创过程控制理论及监控过程的工具---控制图,统称为SPC统计过程控制。
统计过程控制(SPC)是应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和监控,建立和保持过程处于可接受的并且稳定的水平,从而保证产品与服务符合规定要求的一种质量管理技术。统计过程控制利用了科学的方法,保证质量预防原则的实现。这里所说的统计技术泛指任何可以应用的数理统计方法,并且以控制图理论为主。
统计过程控制是过程控制的一部分,从内容上来说有两个方面:一是利用控制图分析过程的稳定性,对过程存在的异常因素进行预警;二是通过计算过程能力指数分析稳定的过程能力满足技术要求的程度,并对过程质量进行评价。质量是无限时、无国界、不断发展的。随着科学技术的发展,近年来产品不合格率迅速降低。
在3σ控制方式下,过程均值无偏移时的不合格率为2.7×10-3,过程均值1.5σ偏移时的不合格率为66807ppm(6.68%);6σ控制方式下,过程无偏移时不合格品率为2×10-9,过程均值1.5σ偏移时的不合格率为3.4ppm。
许多质量管理技术是对已生产出的产品进行分析、检验或评估,以找出提高产品质量的途径和方法,这是事后补救的方法。而统计过程控制与其他方法不同,它是生产过程的各个阶段对产品质量进行适时的监控与评估,因而是一种预防性的方法。强调全员参与和整个过程的控制。因而其特点可总结为以下几点:
1、贯彻预防的原则
2、强调全员参与和全过程实施
3、强调应用统计方法进行监控和评估。
SPC可以判断过程的异常,及时报警,但早期的SPC不能告知其异常是什么因素引起的,发生于何处,即不能进行诊断,而在现场迫切需要解决诊断问题,否则即使想纠正异常也无从下手。现代SPC有了及时报警的控制功能和诊断功能,上升为统计过程诊断(SPD).
SPD不但具有早期SPC告警进行控制的功能,而且具有诊断功能,故SPD是现代SPC理论的发展和重要组成部分。SPD就是利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控与诊断,从而达到缩短诊断异常的时间、以便迅速采取纠正措施、减少损失、降低成本,保证产品质量的目的。SPD是在20世纪80年代发展起来的。