使用涂层测厚仪时应i注意的事项

  仪器信息网 ·  2011-02-19 20:41  ·  35302 次点击
使用涂层测厚仪时应i注意的事项有以下几点:
a基体金属特性
对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
b基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
c边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
e读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
f表面清洁度
测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。

0 条回复

暂无讨论,说说你的看法吧!

 回复

你需要  登录  或  注册  后参与讨论!