1、概述
1.1本试片系本公司按JB/T4730-2005及JB/T6065-2004《无损检测磁粉检测用试片》标准中A1型(试片材料经退火处理)要求制做。
1.2本试片用于连续法磁粉探伤时，验证工件表面磁场强度的方向与大小，验证磁粉探伤综合性能。
2、配套组成与规格
2.1本试片包括A1-7/50、A1-15/50、A1-30/50、A1-15/100、A-30/100和A-60/100六种规格。
2.2试片的尺寸规格与对应的磁场强度
试片厚度：50±5μm和100±10μm
试片边长：均为20±1㎜
圆形人工槽直径：均为10±0.5㎜
十字人工槽长度：均为6±0.3㎜
人工槽宽度：60～180μm
规格人工槽深度μm对应灵敏度周向磁化规范及对应磁场强度
A17/507±1.0μm高灵敏度（11～12）D3520～3840A/m（44～48Oe）
A115/5015±2.0μm中灵敏度（8～9）D2560～2880A/m（32～36Oe）
A130/5030±4.0μm低灵敏度（5～6）D1600～1920A/m（20～24Oe）
A115/10015±2.0μm高灵敏度（11～12）D3520～3840A/m（44～48Oe）
A130/10030±4.0μm中灵敏度（8～9）D2560～2880A/m（32～36Oe）
A160/10060±8.0μm低灵敏度（5～6）D1600～1920A/m（20～24Oe）