美国理想推出业界首款光纤与铜缆性能测试仪
美国理想工业公司（ideal）日前宣布推出一款名为SIGNALTEKTM-FO的新型光纤与铜缆性能测试仪。该仪器是目前世界上首款同时具备光纤和铜缆性能测试功能的仪表，其价格比只具有单一光纤测试功能的仪表更低。
采用新一代千兆以太网技术、光纤和铜缆千兆性能测试合二为一是SIGNALTEK-FO的最大特点。小型可插拔SFP光模块，体积小巧，可在现场进行更换；利用内存或U盘可存储数千条测试报告并可直接连接打印机打印报告。仪表的接口和连接器包括：A型USB接口用于连接U盘，存储测试报告，以及连接打印机直接打印测试报告；B型USB接口用于连接计算机，直接查看或上传测试报告。仪表自带的屏蔽型RJ-45接口支持10/100/1000Mbps以太网连接；SFP型激光模块支持850nm及1300nm波长、1000Mbps以太网。其SFP-850nm激光模块兼容光纤类型包括50/125μm、62.5/125μm多模光纤。SFP-13x0nm激光模块兼容光纤类型为50/125μm、62.5/125μm多模光纤，以及9/125μm单模光纤。激光模块均符合EN60825-1规范。
美国理想工业公司于2006年推出了SIGNALTEK线缆性能测试仪，该测试仪通过向线路发送以太网数据包，同时依据IEEE802.3ab千兆以太网标准，对链路性能予以测试，从而测试链路对各种应用支持能力。通过监测发送和接收的数据包，报告链路误码率，实现BERT（BitErrorRateTest）测试。新推出的SIGNALTEK-FO增加了可插拔SFP光模块，支持使用850nm和13x0nm波长的所有局域网光链路测试应用。传统的激光光源/光功率计只能测量光链路衰减。由于千兆以太网正在成为主干光缆传输标准，只测量衰减有可能不足以保证零误码性能的要求。SIGNALTEK-FO可对光链路进行比特错误率测试，并测量光功率衰减值。
误码率测试范围包括按照IEEE802.3ab标准测试铜缆10/100/1000Mbps误码率，以及按照IEEE802.3ab标准测试光纤1000Mbps的误码率。
SIGNALTEKTM-FO采用标准碱性电池或交流电源直接供电，标准附件包括主机和远端机便携包、铜缆测试附件包、光纤测试附件包、交流电源适配器、USB通信线和用户手册光盘等。
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文章来源：深圳800仪器仪表网（http://www.80017.cn）