HS系列涂层测厚仪测量范围与测量精度
Baike · 2011-08-29 08:51 · 18208 次点击
测量范围:
(1)F400探头、N400探头:0—400μm
(2)F1探头、F1/90探头、N1探头:0—1250μm
(3)F10探头:0—10000μm
(4)CN02探头:10-200μm(根据测量要求选用不同探头)
测量精度:不同探头精度要求不同
(1)F400探头、N400探头:一点校准:(2%+0.7);二点校准:(1%+0.7)
(2)F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头:一点校准:(2%+1);二点校准:(1%+1)
(3)F10探头:一点校准:(2%+10);二点校准:(1%+10)
使用温度:0~40℃
外型尺寸:1508030m
重量:250g
功能HS2100FHS2100NHS3100HS4100
测量原理磁性涡流磁性/涡流磁性/涡流
测量范围标准配置探头(F1/N1):1~1250μm
测量精度
±(2%H+1)μm(零点校准)
±μm(二点校准)
统计量
平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)
存贮和统计15个测量值
测量精度
±(2%H+1)μm(零点校准)
±μm(二点校准)