归结为集成电路产品#可靠性#试验的目的通常有如下几方面：
 
 
 
    1.在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品#可靠性#到达预定指标的状况；
 
 
 
    2.消费阶段为监控消费过程提供信息；
 
 
 
    3.对定型产品进行#可靠性#审定或验收；
 
 
 
    4.暴露和分析产品在各种环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理；
 
 
 
    5.为改良产品#可靠性#，制订和改善#可靠性#试验方案，为用户选用产品提供依据。