光纤在高低温测试中的变化

  labcompanion ·  10 个月前  ·  15565 次点击
有试验结果表明,在连续冷却试验中,光纤在-55℃以下,光纤的损耗增加,尤其是在-60℃以下,损耗更是显著增加,不能满足实际应用的需要。
在连续升温#测试#中(-70~-55℃)光纤损耗均有所下降,这表明由于温度下降而导致的光纤损耗是可逆的,随着温度的回升,损耗也会随之下降。

1、光纤的温度特性是指在高、低温条件下对光纤损耗的影响。在低温条件下光纤损耗增大,这是由于光纤涂覆层、套塑层和石英的膨胀系数不同,有机树脂和塑料的热膨胀系数比石英大得多,低温收缩、高温伸长,光纤在这种轴向压缩力的作用下产生微弯使损耗增大。若在低温下工作,随着温度的不断降低,光纤损耗就不断增大,当温度降至-55℃左右时,损耗急剧增加,使系统无法正常运行。
2、光纤因温度变化产生微弯损耗是由于热胀冷缩所造成。从物理学当中可以知道,构成光纤的二氧化硅(SiO2)的热膨胀系数很小,在温度降低时几乎不收缩。而光纤在成缆过程中必须经过涂覆和加上一些其他构件,涂覆材料及其他构件的膨胀系数较大,当温度降低时,收缩比较严重,所以当温度变化时,材料的膨胀系数不同,将使光纤产生微弯,尤其表现在低温区。
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