电子天平误差产生的原因及减免的方法
Tess · 2012-02-17 11:23 · 56404 次点击
误差分类:系统误差(可测误差)、偶然误差(未定误差)、过失误差系统误差:这是由于测定过程中某些经常性的原因所造成的误差。它对分析结果影响比较恒定,会在同一条件下的重复测定中重复地显出来,使测定结果系统地偏高或系统地偏低。此外,系统误差中也有的对分析结果的影响并不恒定,甚至在实验条件变化时误差的正负值也有改变。例如,标准溶液因温度变化而影响溶液的体积,从而使其浓度变化,这种变化是不恒定。无论这类误差是恒定或非恒定的,都可以找出产生误差的原因和估计误差的大小,所以它又称为可测误差。其分类如下:
方法误差——这是由于分析方法本身不够完善而引入的误差。例如,在滴定分析中由于指示剂选择不恰当而造成的误差。
仪器误差——仪器本身的缺陷造成误差。例如白度仪、电子天平、滴定管等未经校正,在使用过程中就会引入误差。
试剂误差——如果试剂不纯或所用蒸馏水不合规格,而带入干扰杂质,或试剂配制方法不当等,造成的误差。
人为误差(主观误差)——人为造成的误差。例如,滴定时对终点判断时,观察颜色深浅不一。
偶然误差虽然操作者仔细进行操作,外界条件也尽量保持一致,但测得的一系列数据往往仍有差别,并且所得数据误差的正负不定,这类误差属于偶然误差。例如:室温、气压、温度的偶然波动所引起;读取滴定管读数时,估计的小数点后第二位的数值几次读数不一致。
过失误差工作上的粗枝大叶、不遵守操作规程等而造成的过失误差。例如:加错试剂、看错法码、记录及计算错误等。这对于熟练分析工作者来说是不应该存在的。
误差减免系统误差可以采用一些校正的办法和制定标准规程的办法加以校正,使之接近消除。例如,选用公认的标准方法与所采用的方法进行比较,从而找出校正数据,消除方法误差;定期对码法、天平等仪器进行校正,可消除仪器误差;作空白试验,可消除试剂误差。在消除系统误差的情况下,平行测定的次数越多,则测定的平均值越接近真值,因此适当增加测定次数,取其平均值,可以减少偶然误差,偶然误差的大小可由精密度表现出来,精密度越高,偶然误差越小,反之,偶然误差越大。