进口显微镜常见故障解析

  Tess ·  2012-03-04 21:03  ·  14147 次点击
德国蔡司(ZEISS)做为显微镜的鼻祖——国际标准的缔造者160年来一直处于光学领域领导地位,而其它显微镜厂家一直追赶和效仿蔡司,但关键技术没有学到,使得产品不够完善,在使用过程中不可避免地出现一些故障,从而影响用户的正常工作。现就一些常见故障解析如下:
1、显微镜使用一段时间图像质量下降,关机一段时间再打开图像质量就会明显好转。诊断:镜头镀膜技术不过关,长时间使用镜头受热后镀膜发散导致。
2、手动调焦时图像清晰,松手后图像模糊。诊断:调焦机构老化。
3、目镜观察时图像清晰,但采集到的图像却不清晰。把采集到的图像调整清晰时,目镜里观察图像又不清晰了。诊断:系统齐焦性不够,观察和采集不能同步。
4、载物台下滑、平移。诊断:载物台锁定机构采用星型齿轮,长时间使用稳定性降低。
5、图像中间清晰边缘模糊。诊断:球差校正不完善。
放大倍率计算方法:
通过目镜:
总放大倍率=物镜倍率X目镜倍率(如有中间变倍,再乘中间倍率)
照相时:
总放大倍率=物镜倍率X照相目镜倍率
接视频时:
总放大倍率=物镜倍率X接口倍率X视频放大倍数
视频放大倍数=显示屏幕对角线尺寸/CCD靶面尺寸
常用观察方法:
§明场:(利用照明光线直接照射在被测试样反射回来后观察,适用于常规组织的检测,如珠光体/铁素体/马氏体等金相组织的观察)
§暗场:(利用丁道尔现象所产生的光的衍射/绕射,用斜射照明的方式观察被测试样,可以看到明场有时看不到的物质,故又称为超显微术,适用于夹杂物或缺陷的检查)
§偏光:(利用偏光镜片的单向振动特性,在垂直正交时可对具有双折射性的物质进行定性检查,适用与地质岩相和晶体性夹杂物的观察,如氧化亚铜夹杂的检查)
§微分干涉:(又称DIC或诺马尔斯基观察法,观察时立体感明显,可用于微小缺陷的观察,常用于科研)
§其他观察方法:如荧光/相差等等

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