影响谱线强度的因素
仪器信息网 · 2012-04-13 19:11 · 30865 次点击
影响谱线强度的主要因素:
1、激发电位
由于谱线强度与激发电位成负指数关系,所以激发电位越高,谱线强度越小,这是因为随着激发电位的增高,处于激发状态的原子数迅速减少的缘故。
2、跃迁概率
所谓跃迁率是指电子在某两个能级之间每秒跃迁的可能性大小,它与激发态寿命成反比,即原子处于激发状态的时间越长,跃迁概率越小,产生的谱线强度越弱。
3、统计权重
统计权重亦称简并度,指能级在外加磁场的作用下,可分裂成2J+1个能级,谱线强度与统计权重成正比。当由两个不同J值得高能级向同一低能级跃迁时,产生的谱线强度也是不同的。
4、激发温度
光源的激发温度越高,I越大,但实际上,温度升高,一方面使原子易于激发,另一方面增加了电离,致使元素的离子数不断增多而使原子数不断减少,导致原子线强度减弱,所以实验室应该选择适当的激发温度。
5、基态原子数
谱线强度与进入光源的基态原子数成正比,一般而言,试样中被测元素的含量越大,发出的谱线强度越强。