电阻应变片检测原理

  仪器网 ·  2012-07-14 23:35  ·  16690 次点击
导体和半导体材料受力变形引起阻值变化,这种现象称为应变效应。在分析应变效应开始前,首先引出大家共知的电阻数学表达式:[attach]49720[/attach]
式中R—电阻,欧姆;
p一电阻率;
L一导体长度;
A—横截面积。
当金属导体为圆形时,(14-1)式可化为:[attach]49721[/attach]
其中r为圆形金属导体半径。
对圆形金属导体,若沿轴向拉伸时,导体长度值L变大,导体半径r变小,根据(14-2)式,电阻值R将变大。
实验证明,应变片受力变形时其阻值变化量△R与未变形前电阻的比值△R/R,将和材料力学中的轴向变量εx在较大范围内呈线性,如图14-2所示,数学表达式为:[attach]49722[/attach]
[attach]49723[/attach]
式中,K为应变系数,对一般金属,K值约为2。而对半导体材料,由于电阻率P在拉伸时变化较大,因此K值约为50-70。
材料力学指出,轴向变星εx等于对试件施加的力F与试件横截面积A和弹性模量E乘积的比值,即:[attach]49724[/attach]
来源:《石油计量及检测技术概论》,转载请注明出处-仪器信息网(www.cncal.com)

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