2011年6月21日，由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”(编号：2006BAK03A21)在京顺利通过验收。课题验收会由“十一五”国家科技支撑计划重点项目“科学仪器设备研制与开发”的组织部门――国家质检总局科技司主持召开，来自科技部、质检总局、北京市、教育部、中科院、总装备部和国土资源部等部门的20名专家、领导出席了会议。验收专家组审阅了课题组提供的验收资料和测试专家组提供的测试报告，听取了课题执行情况自评价报告和课题研究等报告，经质询和讨论，专家组一致同意项目通过验收。
课题形成了有关SIMS和TOF串联质谱的新技术、新产品、新装置和计算机软件等共19项成果，其中5项已在相关领域成功应用，冷阴极双等离子气体源工艺研究等具有创新性。申请国内发明专利24项、国际发明专利6项。发表论文29篇，其中国际刊物发表5篇。
通过该课题的实施，新建和完善了5个质谱仪器关键部件研发基地和10多个研究试验平台，培养了一批优秀的质谱仪器研发人员，凝聚和造就了一支研发队伍，为今后大型高端质谱仪器的自主研发奠定了基础。
地质所北京离子探针中心在课题中完成了任务书规定的大型质谱仪器研发综合平台、离子源研发试验平台和自动换样及三维微聚焦系统试验平台的搭建，一次气体离子源、自动换样系统和三维微聚焦系统以及相应的供电和自动控制系统的研发。中心主持了整个课题的实施，很好地协调了各参加单位的任务分工，圆满地完成了任务，受到了专家领导的一致好评。