荧光测厚仪
荧光测厚仪结合了X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求.
荧光测厚仪的特征:1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。如X-Strata980X荧光镀层测厚仪就能很好的体现该特征X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。100瓦X射线管25mm2PIN探测器多准直器配置扫描分析及元素分布成像功能灵活运用多种分析模型清晰显示样品合格/不合格超大样品舱同时分析元素含量和镀层厚度