JJG30-2012通用卡尺新版检定规程的4.9条和6.3.12.2条提出了通用卡尺的“细分误差”检定要求，这是历年版本卡尺检定规程所没有提出过的新的检定要求。
1.什么是细分误差？
细分误差是指数显类卡尺（数显卡尺和数显深度卡尺）的测量范围内，传感器主栅一个节距内各点示值与量块标准尺寸之差。细分误差只针对数显类卡尺，纯游标放大原理的卡尺不存在细分误差的检定问题。
2.传感器主栅节距是多少？
细分误差检定的第一步是确定数显类卡尺的传感器主栅一个节距有多大，这应该由卡尺生产商来提供。因此建议今后数显类卡尺生产商在提供的卡尺说明书中应增加传感器主栅节距的有关信息。当前数显类卡尺的传感器主栅节距大多数为P＝5.08mm。
3.细分误差受检点如何确定？
①将传感器主栅节距大致分成五等分：以P＝5.08mm为例，5.08÷5≈1mm。
②确定五个受检点：1mm、2mm、3mm、4mm、5mm；也可以是包含这五个尺寸的处在被检卡尺测量范围内的其它五个受检点，例如0～300mm的数显卡尺也可以选择：61mm、122mm、183mm、244mm、295mm。
③根据实际情况还可以适当增加受检点的数量。例如经常测量(220～230)mm，细分误差受检点可取消上述61mm、122mm和244mm点，增加221mm、222mm、223mm、224mm、225mm
4.细分误差怎么检定？
和卡尺示值误差检定方法完全一样，没有任何区别，按新规程的6.3.12.1条规定的操作步骤检定即可，卡尺的读数值与量块的实际长度之差就是被检数显类卡尺的细分误差。细分误差的允许值与卡尺的示值误差允许值也完全相同。
5.讨论
细分误差有必要检定吗？尚未见到新规程编制小组对增加这个检定项目的必要性论证报告。
由于增加了刀口内量爪示值误差和数显类卡尺细分误差这两个检定项目，小规格数显卡尺示值误差检定工作量将是老规程工作量的三倍还多。我认为新规程取消老规程关于刀口内量爪的尺寸检定项目而增加刀口内量爪示值误差检定项目尚可说得过去。而对增加细分误差检定项目我却持怀疑态度。
细分误差应该是容栅元件的质量，质量把关应该是卡尺制造厂的责任。其它检定项目在使用中可能会发生变化，发生不合格时使用单位可以设法通过调修加以恢复。主栅节距不合格，使用单位就只有报废。另外我也不知道主栅节距在使用中会不会变化。还有就是示值误差检定合格，主栅节距即便是不合格会，对产品的测量结果会产生影响吗，我也不得而知。
如果确实细分误差有非常充分的理由必须检定，我建议把细分误差的检定融入到示值误差检定之中。规定示值误差检定的受检点个数无论测量上限大小都为不少于6个，且除了主尺和游标尺受检点均匀分布外，再增加一个约束就是尺寸个位数应至少包含1mm、2mm、3mm、4mm、5mm。，如(0一500)mm的卡尺，其受检点改为85,164.30,243,322.60,400,491.90mm,或82,163.20,244,325.50,400,491.80mm。通过这样融为一体，也就少检定一个项目，减少检定人员的工作量，符合“绿色”原则。