B型扫描是显示与探测面垂直的纵截面上缺陷形状和大小的二维特征。
如图2.40所示是B型扫描显示超声波探伤仪的原理框图，其各组成部分的基本功能与A型显示探伤仪类似。其基本构成包括：
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(1)同步电路：产生触发脉冲信号至发射电路和扫描电路。
(2)扫描电路：产生的锯齿波电压加到示波管的垂直偏转板上，形成B型扫描的纵坐标(探伤深度)。
(3)发射电路：产生高频脉冲电压加到探测换能器上。
(4)探测换能器：把高频脉冲电压转换成起声波穿透到工件内部，从工件底面或缺陷反射回来的声波经换能器转换成电信号输入到接收电路。
(5)接收放大器：把放大后的信号加到示波管的阴极或栅极上进行亮度调制，使阴极发射的电子束在示波管上显示出亮点。亮点在纵坐标方向的位置代表工件的深度，横坐标代表探头在工件上的位置，亮度(辉度)代表该点缺陷的当量大小。
B型扫描的关键是把随探头位置而变化的电位加到X偏转板以进行方位扫描。如图2.40所示，示波管的水平偏转板与电位器的可变端相连，在电位器上加有直流电压，机械同步使探头的移动与电位器的可交点实现联动。当探头在工件的探测面上移动时，水平偏转板上的电压也随之变化，从而使示波管上水平扫描线也随之水平移动。B型显示不能描述缺陷在深度方向的扩展，只能显示缺陷的水平延展情况。