如何使用奥林巴斯显微镜金相显观察导电粒子
用奥林巴斯显微镜金相显微镜系列配合起偏，检偏及DIC微分干涉，可以很好的观察屏的导电粒子，确认导电粒子个数是否符合要求。
首先，需要观察导电粒子必须要有配有DIC及起偏检偏器的奥林巴斯显微镜金相显微镜。对于观察导电粒子来说一般选用的镜头是要求为不超过20倍为最好，超过后会由于景深的问题导致观察效果模糊，无法观察到最好的效果。
准备好奥林巴斯显微镜金相显微镜及必要的屏后就可以开始观察导电粒子了。首先把DIC及起偏检偏拉出，然后把屏放置在载物台上，调整好焦距，通过载物台移动后找到观察位置。现在插入起偏及检偏器，通过目镜观察屏上位置，再调节检偏器，直到光线最黑时停止调节检偏器。最后插入DIC,调节DIC进行偏光直到看到导电粒子最清晰时就可以停止了。
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