能谱仪的性能指标

  Aaron ·  2011-07-13 08:57  ·  12116 次点击
探头:一般为Si(Li)锂硅半导体探头
探测面积:几平方毫米
分辨率(MnKa):~133eV
探测元素范围:Be4~U92
锂漂移硅检测器原理:
当光子进入检测器后,在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的,因此由一个X射线光子造成的空穴对的数目N=△E/ε。入射X射线光子的能量越高,N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉冲,电流脉冲的高度取决于N的大小。电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器,脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数,这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。

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